北京理工大学珠海学院本科生毕业设计（论文）
基于芯片视觉检测的测量系统——算法设计
摘要
随着芯片的小型化和微型化，以及市场需求不断壮大，现如今的半导体封装检
测与机器视觉检测技术相结合，与之前的人工检测对比，满足了大批量生产的需求；
实现了在生产过程中的非接触性，保证了产品的品质和质量；更好地提高了检测地
准确率和精确度，同时还实现了自动化、实时性和良好的连续性，生产效率也随之
提升。
在以上半导体行业发展的突飞猛进和机器视觉在工业智能制造的应用越来越广
的双重背景下，针对芯片的引脚宽度、引脚长度、引
基于芯片视觉检测的测量系统——算法设计-21037字.docx