基于单片机的
非接触物体尺寸形态测量
系统
设计
作 者
岑祝运
指导教师
李 姮
摘 要
:
随着科学技术不断进步
，
非接触
测量技术逐渐成为一个国家的科技水平的
重要标志
。
由于
人们
对测量环境、测量效率和精度的要求
越来越苛刻
，
使得人们对
尺寸
测量提出了更高的要求
。在高温、高压、放射性物质
和
有毒物质等特殊的环境中，非接触式测量技术起到至关重要作用。非接触式测量技术
有着很广泛的应用前景，
如几何尺寸的测量、航天遥感的测量、
电气设备
表面轮廓以及
元
件外观检测
和识别
技术的研究
。
本文
非接触物体
基于单片机的非接触物体尺寸形态测量系统设计-17940字.docx