P扫描干涉仪的
设计
摘要
测量激光线宽是推动激光器发展的一个重要技术之一，而本文给出了一个能够测量激光纵模线宽的有效仪器。本文通过分析了
Fabry-Perot
腔的基本特性，同时对入射光在其腔中产生多光束干涉进行了理论分析和采用MATLAB对
Fabry-Perot腔中各类参数变化对输出光强的影响做出
仿真，简单总结了
Fabry-Perot腔
的应用特性。同时，还分析了压电陶瓷的应用特性，指出其最具代表性的应用特性—压电效应，并利用其逆压电效应通过控制驱动电压大小去控制压电陶瓷所产生的位移。将环形压电陶瓷通过环氧树胶与
Fabry-Perot腔其中一
F-P扫描干涉仪的设计-15897字.docx