摘 要
在当今社会中，电子技术发展迅速，数字集成电路的应用广泛，而74系列逻辑芯片在数字电路中又有着非常广泛的应用，因而数字电路设计中必须要求所用的数字电路芯片逻辑功能完整，但在数字电路芯片测试中又有很多不便，实际测试较繁琐。为了满足以上需求，本论文设计了一台74系列的通用逻辑芯片测试仪，用以测试74系列通用芯片的及逻辑功能的优劣，为设计与制作提供方便。
在日常的相关学习和实验室实验中，大量使用了 DIC芯片。目前 IC的测试主要集中在工业应用上，很少有专门为实验室设计的芯片
测试仪
，因此，它的测试技术就显
数字集成电路测试仪设计-15646字.docx