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柱状纳米孪晶铜电迁移性能研究-17199字.pdf

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Abstract Withthedevelopmentofthree-dimensionalintegratedcircuitdevicesto miniaturization,highperformanceandmulti-function.Solderjointsprovideelectrical andmechanicalconnectionsbetweenelectricalcomponents,sotheirintegrityand reliabilityarethedecisivefactorsforthereliableoperationofelectricalcomponents. Whilereducingthesizeofmicrobumpsandimprovingthefunctionofelectronic components,theincreaseofcurrentdensityandJouleheatbecomemoreserious, resultinginexcessivecurrentdensityandhightemperaturegradient
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