线性构件动态参数非接触检测系统设计
荆振林
摘要
随着现代检测技术的飞速发展。旨在充分利用我们的知识，进行新技术、新试验方法的研究，掌握科学研究的创新方法
，使之有
分析和解决实际问题的能力
。
微电子技术的进步提供了在一个芯片上以更快的速度和更低的功耗产生数百万门的能力。将包括处理器和内存在内的更复杂的功能集成到单个芯片(片上系统)中，这对设计师来说是一项非常困难的任务。考虑到这些芯片上市时间较短，从零开始设计它们是不切实际的。为了应对这些挑战，将需要重大的创新设计工具、标准和设计方法。一种可能的解决
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